本講座では半導体デバイス評価に関して、はじめて学ぶ人にも、またベテランの人にも役立つ内容を3回にわけて講義します。
IC、LSIなどの半導体デバイスの研究開発、試作・量産、市場といった各フェーズでデバイス評価技術は欠かせませんが、そのベースになる技術は非常に広範囲にわたっているため、その全体を理解することは簡単ではありません。しかし、自社で行う評価手法はもちろんのこと、外部機関に依頼する評価手法についても理解を深めることは、評価手法の選択や評価データの正しい理解をするためには非常に有効です。
本講座では、ベースとなる評価技術に加えて、最近開発や普及した技術や故障解析関連国際シンポジウムの最近の動向も紹介します。
１．半導体デバイスの特徴
２．デバイス評価技術概要
３．信頼性試験電磁気学基礎
４．故障解析
５．寿命データ解析
６．具体例 応用事例
第1回 令和5年10月 3日（火） 13：00－16：00・・・１～３
第2回 令和5年10月24日（火） 13：00－16：00・・・２～６の前半
第3回 令和5年11月14日（火） 13：00－16：00・・・６の後半
大分県産業科学技術センター 第2研修室
（大分市高江西1-4361-10）
デバイス評価技術研究所 代表 二川 清 氏
20名
5,000円（全3回分）
※当日、会場で現金での支払いになります
※お釣りのいらないよう準備をお願いします。
令和5年9月26日（火）
１．全3回の受講が望ましいが、個別回のみの聴講も可能です。
２．受講料には講座で使用するテキスト「はじめてのデバイス評価技術」が含まれています。参加者が購入する必要はありません。
※当日は、セミナーの様子を写真撮影して広報等に使用することがあります。
上記詳細URLの申込用紙に必要事項を記入してFAXまたはメールにてお申込みください。
または、下記の申込みサイトにてお申し込みください。
URL https://ttzk.graffer.jp/pref-oita/smart-apply/surveys-alias/device-renzoku
大分県産業科学技術センター 電子・情報担当 首藤 工業化学担当 谷口
TEL097-596-7101 FAX：097-596-7110
Eメール：i-chem【@】oita-ri.jp