令和5年10月3日（火）、10月24日（火）、11月14日（火）にものづくり技術人材リスキリング研修「デバイス評価技術連続講座」を開催しました。本研修では、デバイス評価技術研究所の二川清代表を講師として、①半導体デバイスの特徴、②デバイス評価技術概要、③信頼性試験、④故障解析、⑤寿命データ解析、⑥具体例・応用事例などについてご講演いただきました。
研修には6社27名の方にご参加頂きました。アンケートでは、内容レベルが難しかったとの回答が多かったものの、「信頼性試験項と不良項目の内容、解析方法について知る事ができ良かったです。」、「解析事例に基づいた解析手法の紹介があったためイメージしやすかった。」、「原理を知ることで正しい測定をすることができるようになった。」、「国際シンポでの最近の動向のご紹介は次に必要とされる分析技術として参考になります。」等の役立つ研修であったとの評価を頂きました。
関連して「分析全般コース」と「半導体デバイス分析コース」について、申込み受け付け中です。ぜひお申込みください。
（工業化学担当 谷口、電子情報担当 首藤）
〇化学分析と半導体デバイスに関わる分析研修
https://www.oita-ri.jp/goriyouanai/seminar/reskilling/#1
研修の様子