ものづくり技術人材リスキリング研修として、令和5年12月4日（月）に「分析技術全般」を、12月19日（火）に「半導体デバイス分析」を開催しました。株式会社東レリサーチセンターの専門家を講師として、「分析技術全般」では、1.デバイス周辺材料の分析技術総論、2.材料物性評価、3.無機分析、4.有機分析、5.発生ガス分析について、また「半導体デバイス分析」では、1.パワー半導体の構造とよく使われる評価・解析技術、2.組成・不純物評価法、3.電子顕微鏡を用いた評価法、4.プローブ顕微鏡を用いた評価法、5.光を用いた評価法、6.熱抵抗・放熱性評価についてご講演いただきました。
研修には延べ23社70名の方にご参加頂きました。アンケートでは「全般的な分析手法について知ることができた。解析が必要になった場合、何から手を付ければよいか参考になります」「パワー半導体を知らなかったのでいい機会となった。組成分析など通常学べない所なので聞けてよかった。熱抵抗、放熱性評価は参考になりました」等の役立つ研修であったとの評価を頂きました。
令和6年度には、更新した電界放出形走査電子顕微鏡や新規導入した精密断面試料作製装置を使用した実習中心のリスキリング研修を計画中です。ご関心やご興味がある方はご連絡ください。
（工業化学担当 安友、谷口、 電子・情報担当 首藤）
研修の様子